超低顆粒物監(jiān)測儀知識分享：如何校驗顆粒物CEMS？

    超低顆粒物監(jiān)測儀知識分享：如何校驗顆粒物CEMS？

    將建立的手工采樣參比方法測定結(jié)果與顆粒物CEMS測定結(jié)果的一元線性回歸方程的斜率和截距輸入到CEMS的數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)，將顆粒物CEMS的測定顯示值修正到與手工采樣參比方法一致的顆粒物濃度(mg/m3)。

    手工采樣斷面排氣流速應≥5m/s，當不能滿足要求時:
    a.在2.5~5m/s之間時，取實測平均流速計算采樣流量進行恒流采樣，校驗方法仍采用一元線性回歸方程:
    b.低于2.5m/s時，取2.5m/s流速計算采樣流量進行恒流采樣。至少取9個有效數(shù)據(jù)對計算K系數(shù)，即手工方法平均值/CEMS顯示值平均值，然后將K系數(shù)輸入到CEMS的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，校驗后的顆粒物濃度=K·CEMS顆粒物顯示值。
    當無法調(diào)節(jié)顆粒物控制裝置或燃燒清潔能源時，亦可采用K系數(shù)的方法。

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